15.2.3 集成电路边界扫描技术和标准——IEEE1149.1

• 书名：现代半导体集成电路
• 作者名：杨银堂 朱樟明 刘帘曦编著
• 本章字数：1115字
• 更新时间：2025-03-08 10:55:07